Даташит для SN74BCT8374ADW (TI), SN74BCT8374ADWR (TI), SN74BCT8374ADWRE4 (TI), SN74BCT8374ADWRG4 (TI), 5962-9172701Q3A (TI), 5962-9172701QLA (TI), SNJ54BCT8374AFK (TI), SNJ54BCT8374AJT (TI)

 
Производитель: Texas Instruments
Наименование
Производитель
Описание Корпус/
Изображение
Цена, руб. Наличие
SN74BCT8374ADW
SN74BCT8374ADW
Texas Instruments
Арт.: 398771 ИНФО PDF AN
Доступно: 4432 шт.
Выбрать
условия
поставки
Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 24-SOIC 0 to 70
SN74BCT8374ADW от 23 шт. от 606,67
4432 шт.
(под заказ)
Выбрать
условия
поставки
SN74BCT8374ADWR
Texas Instruments
Арт.: 398774 ИНФО PDF AN
Поиск
предложений
Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 24-SOIC 0 to 70
SN74BCT8374ADWR
-
Поиск
предложений
SN74BCT8374ADWRE4
SN74BCT8374ADWRE4
Texas Instruments
Арт.: 398775 ИНФО PDF AN
Поиск
предложений
Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 24-SOIC 0 to 70
SN74BCT8374ADWRE4
-
Поиск
предложений
SN74BCT8374ADWRG4
SN74BCT8374ADWRG4
Texas Instruments
Арт.: 398776 ИНФО PDF AN
Поиск
предложений
Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops 24-SOIC 0 to 70
SN74BCT8374ADWRG4
-
Поиск
предложений
5962-9172701Q3A
5962-9172701Q3A
Texas Instruments
Арт.: 2538378 PDF AN
Доступно: 7 шт.
Выбрать
условия
поставки
5962-9172701Q3A от 3 шт. от 6225,83
7 шт.
(под заказ)
Выбрать
условия
поставки
5962-9172701QLA
5962-9172701QLA
Texas Instruments
Арт.: 2538379 PDF AN
Доступно: 88 шт.
Выбрать
условия
поставки
5962-9172701QLA от 3 шт. от 4617,47
88 шт.
(под заказ)
Выбрать
условия
поставки
SNJ54BCT8374AFK
SNJ54BCT8374AFK
Texas Instruments
Арт.: 2542109 PDF
Поиск
предложений
SNJ54BCT8374AFK
-
Поиск
предложений
SNJ54BCT8374AJT
SNJ54BCT8374AJT
Texas Instruments
Арт.: 2542110 PDF
Поиск
предложений
SNJ54BCT8374AJT
-
Поиск
предложений

Сравнение позиций

  • ()