Оптоэлектроника и дисплеи - Решения

Описание:

Отладочный модуль DLP® LightCrafter™ 4500 на базе DLP® 0.45” WXGA позволяет гибко управлять паттернами с высоким разрешением для индустриального применения, применения в области медицины и науки. Бесплатное графическое приложение и API позволяют разработчикам легко внедрить инновационные цифровые микрозеркальные устройства (DMD) от TI в камеры, сенсоры и другое периферийное оборудование для создания высококачественных систем компьютерного 3D зрения, 3D принтеры и дисплеи дополнительной реальности.

 

Возможности:

  • Точное управление более чем 1 000 000 микрозеркал с частотой до 4225 Гц;
  • Несколько интерфейсов подключения, включая USB, mini-HDMI, I2C и FPD Link;
  • Два конфигурируемых I/O триггера с программируемой полярностью и контролем задержки фронта и спада для интеграции с широким спектром периферийных устройств;
  • 32 МБ флеш памяти позволяют хранить до 64 24-битных паттернов;
  • До 3 светодиодов синхронизируются с отображаемым паттерном с помощью LED драйвера с выходом 0-5 А;
  • Данное высокоинтегрированное, и в то же время, гибкое решение позволяет сократить время разработки устройств, где высокая яркость и разрешающая способность имеют решающее значение.

Возможность заказа
  • Заказать BOM
Документация:
  • Даташит
  • Схемотехника
  • Програмное обеспечение
  • BOM
  • Топология платы
  • Тестирование
Описание:

Для получения высокой производительности в компактном форм факторе в данном спектрометре ближнего ИК диапазона (NIR) применена DLP технология Texas Instruments совместно с одним элементом InGaAs, что делает данное решение более доступным по сравнению с дорогой матрицей элементов InGaAs или системой на основе хрупкой вращающейся дифракционной решетки. NIR спектрометры обычно используются для проведения анализа органических жидкостей и твердых тел в таких сферах, как пищевая промышленность, сельское хозяйство, фармацевтика, нефтехимия и прочее. В сочетании с мощным процессором Sitara и аналоговыми цепями, разработчикам теперь доступен спектрометр HIi-End класса для применения в производстве или полевых условиях. 

 

Возможности:

  • Диапазон длин волн от 1350 до 2450 нм со скоростью реакции менее 1 с и отношением сигнал/шум (SNR) >30000:1 
  • Применение одного элемента InGaAs с высокой пропускной способностью света делает данное решение дешевле матрицы элементов InGaAs
  • Программируемый фильтр длин волн позволяет постоянно сканировать SNR, на лету изменять длину волны и разрешение и применять хемометрические алгоритмы
  • Высокая разрешающая способность решения до 1824 точек
  • Открытая платформа BeagleBone Blackc ОС Linux и Web-сервером обеспечивает возможность подключения через USB, Ethernet, WiFi или Bluetooth
  • Прочное решение на основе MEMS-технологии исключает необходимость применения подвижныхдифракционных решеток или зеркал для портативного оборудования

Документация:
  • Даташит
  • Схемотехника
  • BOM
  • Топология платы
  • Тестирование
Описание:

В базовом проекте машинного 3D-зрения задействован набор разработки программного обеспечения (SDK) с продвинутым управлением светом и технологией DLP® от Texas Instruments для контроллеров LightCrafter™, что позволит разработчикам с лёгкостью создавать объёмные облака точек путём интегрирования технологии цифровых микрозеркальных устройств (DMD) в камеры, датчики, двигатели или другую периферию. В данной высокоинтегрированной системе машинного 3D-зрения используется отладочный модуль (EVM) DLP® LightCrafter™ 4500 с чипсетом DLP4500 для WXGA, что позволяет гибко управлять точными моделями высокого разрешения для промышленных, медицинских и охранных применений.

Базовый проект имеет характер аппаратно-программного решения.

Возможности:

  • Решение 3D-сканнера с использованием чипсета DLP4500 для быстрого и программируемого построения моделей
  • Поддерживает синхронизированную съёмку камерами с матрицами с полнокадровым и построчным переносом
  • Модуль камеры с общей OpenCV для гибких бюджетных применений
  • Шаблон калибровки проектора и камеры
  • Структурированные алгоритмы СВЕТА для генерирования карты смещений, карты глубин и облака точек
  • Реализация методов кода Грея и гибридного трёхфазного сканирования

Документация:
  • Даташит
  • Схемотехника
  • BOM
  • Топология платы
  • Тестирование
*Информация о ценах и сроках поставки носит информационный характер. Офертой является только выставленный счет.

Сравнение позиций

  • ()